SAMPLE HOLDER STAGES FOR MANIPULATIONS




SHR 100
Sample Holder Receiving Station

最大温度 各サンプルホルダ;
・900K;銅板を介した間接加熱
・1300K;モリブデン板を介した間接加熱
・1500K;電子ビームによる直接加熱
・2300Kまで;電子ビーム加熱及び冷却機構
・接点 熱電対(クロメル/コンスタンタンかクロメル/アルメル);2接点
 抵抗加熱;2接点
 Freeピン;2接点
・冷却 LN2 (<100K) or LHeによる冷却フィンガーとサファイア球の冷却
・圧空式サンプルホルダロック
SHR 40HC
Sample Holder Receiving Station

・フラグスタイルサンプルホルダ用
・800℃まで加熱(抵抗加熱or電子ビーム加熱)
・銅製LN2リザーバからサンプルホルダ直接冷却
・接点 熱電対(クロメル/コンスタンタンかクロメル/アルメル);4接点
 サンプルバイアス / 電流計測
 加熱;2接点

関連製品:flag style sample holder series with/without thermocouple
     HPM 100 manipulator series
SHR 40C
Sample Holder Receiving Station

・フラグスタイルサンプルホルダ用
・CF40取付フランジ
・熱電対;2接点
・急速冷却
・小型
・LN2連続冷却
・外部接続 冷却台の熱電対(クロメル/アルメル)直接計測
・スプリングを介したサンプル接点の熱電対直接計測
・冷却 銅製LN2リザーバからサンプルホルダ直接冷却温度<90K

関連製品: flag style sample holder series
       CF 40 HPM Mini manipulator series
       CF 40 Z-Manipulator

SHR 40H
Sample Holder Receiving Station

SHR40Hステージはフラグスタイルサンプルホルダ加熱ステーションです。
間接抵抗加熱または電子ビーム加熱はサンプル温度800℃;昇温レート5K/s
熱電対を加工した特殊なサンプルホルダによるサンプル直接計測またはサンプルホルダのスプリング接触による計測の温度モニターができます。
ステージは完全な非磁性体構築です。HPM Mini XYZマニピュレータ、CF40 Z-リアクターまたは傾斜角機能有無にかかわらずSHR 40 Hへのアライメントの正確さに信頼性があります。
SHR 200
Sample Holder Receiving Station

・フラグスタイルサンプルホルダ用
・LN2 or LHe連続冷却
・サンプル温度計測
・高精度回転角

・最大温度 :各サンプルホルダ;
         1300 K;電子ビームによる直接加熱
         1000 K;直接加熱
・接点   :熱電対(クロメル/コンスタンタンかクロメル/アルメル);2接点
         サンプルバイアス / 電流計測
         加熱;2接点
・冷却   :LN2 or LHeによる冷却フィンガーの冷却

関連製品: HPM manipulators
       RDC 700 distribution chamber

SHR 2000
Sample Holder Receiving Station
・フラグスタイルサンプルホルダ用
・急速加熱2000℃
・サンプル近傍温度計測
・負極フィラメント
・最大温度         :各サンプルホルダ;2300 K;Taサンプルホルダの電子ビーム加熱
・接点             :熱電対;2接点 (W/Rh)
                フィラメント;2接点

関連製品: PS-REG 200 power supply
       SH sample holder series
       HPM manipulators
       RDC 700 distribution chamber




SAMPLE HOLDERS

OmniVac サンプルホルダ - 各アプリケーション 各種サンプルホルダに対応
水晶発振式センサーに対応
酸素抵抗加熱ホルダ
サーモカップル付き小型サンプルホルダ

アプリケーションに応じたサンプルホルダのカスタマイズ
SH 100
標準設計
・標準サンプルサイズ  :1”(25.4mm)
・最大サンプルサイズ  :200 mm (直径)
・6接点           :熱電対;2接点, 加熱;2接点 ,フリー;2接点
 加熱            :1300 K (直接). 2300 K (電子ビーム)
・冷却            :LN2 (< 100 K) or LHe (< 50 K)
・調整            : 測定面サンプル傾斜調整

設計変更例
・直接加熱         :SH 130, Si/SiO2急速加熱
・電子衝撃加熱      :SH120, SH 125 (2300 K)
・外部接続
・各種サンプルホルダシステム

・光学計測用
・加熱 / 冷却
・サンプルホルダ    :SH 150
・集積保障電極     :SH 105

関連製品 :QMB 200 Quartz Microbalance (sample holder type)
        FC 200 Faraday Cup (adjustment device, sample holder type)

       








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