固体、固体表面及び気体の物性、素性や反応などを分析測定する装置類とこれらの 測定結果を用いて半導体/記録媒体製造プロセス の管理、制御を行う機器を扱っています。



お知らせ
     ・第30回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム 2018年1月9日(火)、10日(水)へ出展します。



OmniVac社ホームページ
  真空機器及び表面分析コンポーネント

Products 真空機器及び表面分析コンポーネント
EVAPORATORS エバポレータ
SOURCES X線源、電子源、イオンソース、UV光源
MANIPULATORS マニピュレーター
SAMPLE TRANSFER TOOLS サンプルトランスファー
SAMPLE HOLDER STAGES サンプルホルダ、ホルダステージ
UHV SYSTEMS UHVチャンバー
IPES 逆光電子分光システム





Verity社ホームページ

光学式エンドポイントディテクタ

・SD1024 シリーズ   エンドポイントディテクタ   
・ SP2100  分光式リフレクトメータ
 SD1024とキセノンランプを組み合わせで
 ウェハー上の膜厚などを測定します。
・ SD512GR
 近赤外光分光装置  





エレクトロンマルチプライヤー

シリーズKBL
二次電子増倍管  CEMs






Suface Concept社ホームページ  ディレイラインディテクタ

DLDs ディレイライン型位置敏感型検出器 DLDs

時間分解中性子イメージ検出器





Auコーティングガラス

Gold arrandee™ / Au(111)
Auコーティングガラス

フレームアニーリングで容易に金の単結晶(111面)が再生さ れます。