固体、固体表面及び気体の物性、素性や反応などを分析測定する装置類とこれらの 測定結果を用いて半導体/記録媒体製造プロセス の管理、制御を行う機器を扱っています。


お知らせ

H29年8月17日(木) - 8月18日(金)
2017年 真空・表面科学合同講演会 出展

H29年9月6日(水) - 9月8日(金)
JASIS 2017 出展



OmniVac社ホームページ
  真空機器及び表面分析コンポーネント

Products
真空機器及び表面分析コンポーネント
EVAPORATORS エバポレータ
SOURCES X線源、電子源、イオンソース、UV光源
MANIPULATORS マニピュレーター
SAMPLE TRANSFER TOOLS サンプルトランスファー
SAMPLE HOLDER STAGES サンプルホルダ、ホルダステージ
UHV SYSTEMS UHVチャンバー
IPES 逆光電子分光システム





Verity社ホームページ


光学式エンドポイントディテクタ

SD1024 シリーズ エンドポイントディテクタ SD1024
・SP2100 分光式リフレクトメータ
SD1024とキセノンランプを組み合わせでウェハー上の膜厚などを測定しま す。
・SD512GR 近赤外光分光装置






SJUTS社ホームページ  エレクトロンマルチプライヤー

シリーズKBL 二次電子増倍管 CEMs







Suface Concept社ホームページ  ディレイラインディテクタ

DLDs
ディレイライン型位置敏感型検出器
DLDs

時間分解中性子イメージ検出器
 




Auコーティングガラス

Gold arrandee™ / Au(111)
Auコーティングガラス

フレームアニーリングで容易に金の単結晶(111面)が再生さ れます。