蛍光X線分析計 X-Supreme8000

品質保証やプロセス制御要求対応用X-Supreme8000 蛍光X線分析装置(XRF)
周期律表の元素Na11〜U92をカバーしており、固体、液体、粉末、ペースト、フィルムなど、ppmから高%までの幅広いサンプルを分析できます。
  • 蛍光X線方式により非破壊・非接触・短時間で測定可能
  • サンプル前処理が最小限又は不要
  • 分析に専門知識や化学溶剤などの薬剤は不要
  • 高速、高精度、長期信頼性のためのFocusSDテクノロジー
  • 定性分析、半定量・完全定量分析を実行する柔軟性
  • 最大10のサンプルポジションで測定可能
  • サンプルスピナーによる不均一な混合物や粒径サイズによる測定誤差を低減